影响涂层测厚仪测量的若干因素,测厚仪性能特点

1，基体金属磁性 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。

2，基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

3，边缘效应 本仪器对试片表面形状的陡变敏感。因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

4，曲率 试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

5，表面粗糙度 基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未屠夫的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层，再校对仪器的零点。

6，磁场 周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。

7，附着物质 本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

8，探头压力 探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。

9，探头的放置 探头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使探头与试样表面保持垂直。

10，试件的变形 探头使软覆盖层试件变形。因此在这些试件上会测出不太可靠的数据。 读数次数 通常仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个读数，覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量。表面粗糙时更应如此。

恒奥德新型测厚仪 使用注意事项

使用注意事项

测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项:

⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

本段应用

1、激光测厚仪是利用激光的反射试验方法，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

5、涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.

6、超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射试验方法来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此试验方法测量。

主要类型

用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定试验方法的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。

超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，*大测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01~±0.1 mm之间。

磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。

涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的试验方法，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

涂层测厚仪可以利用涡流和电磁感应两种不同的方法进行厚度测量。

如何校准铁基涂层测厚仪

校零

1.将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测 量体上)，再轻按一下校零键ZERO进行校零。

需要注意的是，在按ZERO键时，测量探头一定要压紧在铁基上，而且不要晃动。

若按校零键ZERO时，探头未压紧在零板(基块)上，则是显示器清零，而不是校零。

2.将测量探头提起1厘米以上，然后再将探头压放铁基上(或不带涂层的测量体上)观察铁基上的测量值；

若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应重新校零。

校满度

1.根据要测量的涂层厚度，选择适当的标准膜片，进行满度校准。

2.先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。

3.再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上；

若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加I键或减1键来修正。

修正时，测量探头应远离铁基或测量体至少2厘米。

4.为保证校满度的准确性，可通过多次测量同一标准膜片上同一点来验证。

应用:

测量钢、铁等磁性金属基体上的非铁磁性涂层、镀层；

例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。