摘要：对金属化膜高压并联电容器内熔丝的考核方法、不自愈时的保护以及与断路器开断时间的配合等问题进行了讨论。
关键词：金属化膜 并联电容器 内熔丝 试验方法 保护 开断时间 金属化膜低压并联电容器已经有30余年的历史了。现在尽管还在不断地提高和创新，但早已被人们普遍接受，因而完全取代了老式的油浸式产品。而高压并联电容器，暂且不谈金属化膜产品，就以油浸式产品而论，还是膜纸复合产品用量居多，而且较为可靠。据不完全统计，至2000年底，我国（未计台湾、香港和澳门地区）高压并联电容器的总装机容量约为168Gvar左右，其中绝大多数是膜纸复合产品。全膜电容器虽然走过了20余年的艰难历程，只是近两年全膜产品的产量才超过膜纸复合产品。以2000年为例，按行业12个厂家的统计，高压并联电容器中，全膜产品按台数计占59．24％，按容量计占64．03％。而某省电力部门1990～1998年连续九年的统计表明，在已投运的8．646Gvar电容器中，膜纸复合产品的容量故障率为0．46％，而全膜产品（大部分是进口产品）的容量故障率却高达11．88％，后者是前者的近26倍！这充分说明，一类新产品的研制成功并非易事！
金属化膜高压并联电容器从20世纪80年代才开始研制，至今在国外仍因种种原因而未在市场上占主导地位。我国的起步要晚得多，从桂林电力电容器总厂开创性的研究工作开始计算，仅仅六七年光景。但产品上市的速度却大大高于国外。作者认为，我们的此类产品还处在成长期，加之市场需求过旺，该类产品在运行中出了一些问题，应当属于产品成长期的正常情况。与上述全膜并联电容器的发展情况比较，似乎不应该感到意外。当然，我们有责任抓紧研究，让它日趋完善，以满足用户不断增长的需要。为此，下面想从几个方面发表几点拙见。
首先是对内熔丝的考核方法。这似乎是一个不成问题的问题。因为各国标准都有规定，而且基本一致。但作者认为，这种用铁钉对有内熔丝的元件造成人为短路，用来考核内熔丝保护是否可靠的方法，仅仅对油浸式膜纸和全膜电容器适合，而对金属化膜电容器就不能认为是合适的了！因为此种方法从根本上讲，不能模拟金属化膜电容器击穿瞬间的工况，这一点恐怕是大家的共识，不必为之再费笔墨了。那么，为什么还要用此方法来考核金属化膜电容器中的“内熔丝”呢？我想答案也许只有一个：严格执行标准！这当然无可非议。但是，人们不禁要问：用这样的方法考核后“合格”的产品，能在纷繁复杂的运行工况中经受住考验吗？近年来仅作者所知的若干情况，已经能给出否定的答案。所以我认为，研制者切不可因为试验通过后产品运行时就高枕无忧了，而应该补充额外的但又非常必要的针对性强的试验项目，严格考核，以确保产品出厂后*可靠运行。
其次是“自愈性”。人所共知，这正是金属化膜电容器的独特优点。很可能就是这一优点，吸引了不少人的目光，想方设法要把它推而广之，让它也在高压并联电容器领域一显身手，这无疑有着诱人的前景。同时人们也没有忘记，金属化膜电容器的“自愈性”并非无处不在、无时不有；而令人费解的是普遍承认、但却大多有意（应读做相信上述考核试验结果）或无意的予以忽视，或者说措施不能满足真实要求。既然不自愈或自愈失败的现象时有发生，而且此时故障处的绝缘电阻不降低到零，而是欧姆级至兆欧级的某个不确定的值，那末这一根小小的熔丝怎么能对如此不同的情况给予可靠的保护呢？也许有人会说，这时无需熔丝劳神，元件还可继续工作。事实上这种元件也确实还在继续运行，但绝非令人放心地*运行。为此我们不妨假定故障后的残留阻值为几十欧或百欧级，那时该元件的温度必然会升高，这一点在运行中已经得到充分证明。这种温升不能归咎于元件端部局部放电所致：①投运初期也有局部放电现象出现，但是未见元件表面温度升高，此种温度大幅度升高只能认为是不自愈出现后的结果；②经对在室内运行的电容器组元件表面温度的实际测试，竟达80℃甚至还高一些。
再次是保护动作时限。大家知道，目前投运电容器一般都用真空断路器或六氟化硫断路器，以10～35kV级而言，开断时间通常为2．5～3．0周波左右，亦即50～60ms的时间。尽管如此之迅速，但仍时有不能防止故障电容器组事故扩大的情况出现。比如电容器爆裂着火后断路器才跳闸。虽然这种现象原因极其复杂，很难三言两语给出一个明确而又为大家公认的简要说法，但有一点似乎可以明白，那就是断路器的动作时间还过长，没能赶在事故扩大前切断电源；或者说有些时候事故扩大所需的时间小于50～60ms。这就是说，即使加上继电保护出口继电器的动作时间在内，总的开断时间也在100ms左右。如果仍然视“继电保护为后备保护，电容器内部的固有（因设计而定下来的）保护为主保护”是一条基本原则的话，那末，上述时限就得千方百计满足，以确保电容器的*运行。如不遵守这一原则，发生恶性事故的可能性恐怕在所难免。当然，由于断路器拒动酿成的大祸也是有的，这不能和上面的情况混为一谈。
电容器是一种容纳电荷的器件，是电子设备中大量使用的电子元件之一，广泛应用于电路中的隔直通交，耦合，旁路，滤波，调谐回路，能量转换，控制等方面。关于电容器的检测，主要分为三大类：固定电容器的检测、电解电容器的检测、可变电容器的检测。
一、固定电容器的检测
1、检测10pF以下的小电容因10pF以下的固定电容器容量太小，用万用表进行测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。测量时，可选用万用表R×10k挡，用两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。
2、检测10PF～0.01μF固定电容器是否有充电现象，进而判断其好坏。万用表选用R×1k挡。两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用，把被测电容的充放电过程予以放大，使万用表指针摆幅度加大，从而便于观察。应注意的是：在测试操作时，特别是在测较小容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万用表指针的摆动。
3、对于0.01μF以上的固定电容，可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。
二、电解电容器的检测
1、因为电解电容的容量较一般固定电容大得多，所以，测量时，应针对不同容量选用合适的量程。根据经验，一般情况下，1～47μF间的电容，可用R×1k挡测量，大于47μF的电容可用R×100挡测量。
2、将万用表红表笔接负极，黑表笔接正极，在刚接触的瞬间，万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡，容量越大，摆幅越大)，接着逐渐向左回转，直到停在某一位置。此时的阻值便是电解电容的正向漏电阻，此值略大于反向漏电阻。实际使用经验表明，电解电容的漏电阻一般应在几百kΩ以上，否则，将不能正常工作。在测试中，若正向、反向均无充电的现象，即表针不动，则说明容量消失或内部断路;如果所测阻值很小或为零，说明电容漏电大或已击穿损坏，不能再使用。
3、对于正、负极标志不明的电解电容器，可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。即先任意测一下漏电阻，记住其大小，然后交换表笔再测出一个阻值。两次测量中阻值大的那一次便是正向接法，即黑表笔接的是正极，红表笔接的是负极。
4、使用万用表电阻挡，采用给电解电容进行正、反向充电的方法，根据指针向右摆动幅度的大小，可估测出电解电容的容量。
三、可变电容器的检测
1、用手轻轻旋动转轴，应感觉十分平滑，不应感觉有时松时紧甚至有卡滞现象。将载轴向前、后、上、下、左、右等各个方向推动时，转轴不应有松动的现象。
2、用一只手旋动转轴，另一只手轻摸动片组的外缘，不应感觉有任何松脱现象。转轴与动片之间接触不良的可变电容器，是不能再继续使用的。
3、将万用表置于R×10k挡，一只手将两个表笔分别接可变电容器的动片和定片的引出端，另一只手将转轴缓缓旋动几个来回，万用表指针都应在无穷大位置不动。在旋动转轴的过程中，如果指针有时指向零，说明动片和定片之间存在短路点;如果碰到某一角度，万用表读数不为无穷大而是出现一定阻值，说明可变电容器动片与定片之间存在漏电现象。
一、检查是否有碰片、短路：用万用表R ×10K档，把红、黑表笔分别接在定片和动片脚上，慢慢转动转轴，若表针摆动，说明电容器在这位置上短路碰片了。若动片不管转到哪里，表针都指在∞位置，说明此电容器是正常的。
二、检查电容器毛病：当转动收音机里的电位器时，会不断地听到“克勒”、“克勒”的声音，这一般都是可变电容器接触不良所致（在没有其它故障的情况下）。
三、可变电容只能转动180°。如果电容器能转过360°，说明定位脚已经损坏了。这样的可变电容器会使刻度上的电台位置弄乱。
四、如果发现某电台在某位置上有播音声时又突然没有声音了，过一会儿又有声音，说明此可变电容器有碰片的故障。
五、用万用表电阻档粗略鉴别5000PF以上容量电容的好坏 用万用表电阻档可大致鉴别5000PF以上电容器的好坏(5000PF以下者只能判断电容器内部是否被击穿)。检查时把电阻档量程放在量程高档值，两表笔分别与电容器两端接触，这时指针快速的摆动一下然后复原，反向连接，摆动的幅度比*次更大，而后又复原。这样的电容器是好的。 电容器的容量越大，测量时电表指针摆动越大，指 针复原的时间也较长，我们可以根据电表指针摆动的大小来比较两个电容器容量的大小。
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